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Samsung Electronics 보유 US 특허 관련 급성장 키워드 분야별 중요 지표

맥파 센서(pulse wave sensor) 분야의 Omron Healthcare 보유 US 특허 관련 특허 출원 공개 동향 정보입니다.
중요 지표 정보에는 Samsung Electronics의 US 특허 보유 급성장 키워드 분야별 공개 특허수 및 등록 특허수와 같은 포트폴리오 관점의 지표, 매입 특허수나 해외 특허 패밀리수 등과 같은 투자 관점의 지표, 심사관 피인용수나 해외 심사관 피인용수 등과 같은 관심 관점의 지표, self 피인용수 등과 같은 R&D 연속성 관점의 지표, 소송수나 심판수와 같은 분쟁 관점의 지표, 점유율과 집중률 등과 같은 비율 지표 등이 있습니다. 급성장 키워드는 Samsung Electronics 보유 US 특허에 포함된 전체 키워드 중에서 최근 출현 빈도가 빠르게 증가하고 있는 키워드입니다. Samsung Electronics 보유 US 특허 관련 급성장 키워드 분야별 중요 지표 정보입니다.중요 지표 정보에는 Samsung Electronics의 US 특허 보유 급성장 키워드 분야별 공개 특허수 및 등록 특허수와 같은 포트폴리오 관점의 지표, 매입 특허수나 해외 특허 패밀리수 등과 같은 투자 관점의 지표, 심사관 피인용수나 해외 심사관 피인용수 등과 같은 관심 관점의 지표, self 피인용수 등과 같은 R&D 연속성 관점의 지표, 소송수나 심판수와 같은 분쟁 관점의 지표, 점유율과 집중률 등과 같은 비율 지표 등이 있습니다. 급성장 키워드는 Samsung Electronics 보유 US 특허에 포함된 전체 키워드 중에서 최근 출현 빈도가 빠르게 증가하고 있는 키워드입니다.
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번호 키워드 공개 특허수 등록 특허수 점유율_공개 (1) 점유율(of com. in field)_출원 공개 = (권리자 보유 이 분야 전체 공개 특허수) / (이 분야의 전체 공개 특허수) 집중률 (2) 집중률(of com. on field) = (기업 보유 이 분야의 전체 공개 특허수) / (기업 보유 전체 공개 특허수) 매입 특허수 소송 특허수 심판 특허수 심사관 피인용수 점유율_FC-E (3) 점유율(of com. in field)_심사관 피인용 = (권리자 보유 이 분야 전체 특허의 심사관 피인용수) / (이 분야 전체 특허의 심사관 피인용수) 해외 Fam.
1 bandwidth part 265 119 8% 0.18% 3 - - 771 21.6% 535
2 mobility management function 216 101 12% 0.14% 3 - - 290 10% 412
3 artificial intelligence model 266 96 17.1% 0.18% - - - 161 10.7% 505
4 peripheral circuit region including metal pad 76 56 100% 0.05% - - - 42 100% 131
5 cell region including metal pad 71 52 100% 0.05% - - - 40 100% 123
6 micro LED 82 40 5.58% 0.05% 2 - - 48 2.61% 171
7 memory cell region including metal pad 67 49 100% 0.04% - - - 39 100% 114
8 session management function 151 77 10.7% 0.1% 3 - - 244 14.6% 303
9 PDU session 151 72 11.3% 0.1% 2 - - 287 18.1% 300
10 TCI 99 25 8.35% 0.07% - - - 140 10.7% 118
출력 개수 제한
  • 점유율_공개 (1) 점유율(of com. in field)_출원 공개 = (권리자 보유 이 분야 전체 공개 특허수) / (이 분야의 전체 공개 특허수)

  • 집중률 (2) 집중률(of com. on field) = (기업 보유 이 분야의 전체 공개 특허수) / (기업 보유 전체 공개 특허수)

  • 점유율_FC-E (3) 점유율(of com. in field)_심사관 피인용 = (권리자 보유 이 분야 전체 특허의 심사관 피인용수) / (이 분야 전체 특허의 심사관 피인용수)

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