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주사전자현미경(FE-SEM)
Scanning Electron Microscope
| 개요 | 시료의 표면 구조 및 형상, 구성 성분을 관찰 할 수 있는 장비 시료의 표면 구조 및 형상, 구성 성분을 관찰 할 수 있는 장비 시료의 표면 구조 및 형상, 구성 성분을 관찰 할 수 있는 장비 |
|---|---|
| 모델/규격명 | S-4700 |
| 보유기관 | 정밀분석개발실 |
| 관리부서 | 공용장비지원센터 1588-1830 |
주사전자현미경(FE-SEM)
Scanning Electron Microscope
| 개요 | 시료의 표면 구조 및 형상, 구성 성분을 관찰 할 수 있는 장비 |
|---|---|
| 모델/규격명 | S-4700 |
| 보유기관 | 정밀분석개발실 |
| 관리부서 | 공용장비지원센터 1588-1830 |
주사전자현미경(FE-SEM)
Scanning Electron Microscope
| 개요 | 시료의 표면 구조 및 형상, 구성 성분을 관찰 할 수 있는 장비 |
|---|---|
| 모델/규격명 | S-4700 |
| 보유기관 | 정밀분석개발실 |
| 관리부서 | 공용장비지원센터 1588-1830 |
주사전자현미경(FE-SEM)
Scanning Electron Microscope
| 개요 | 시료의 표면 구조 및 형상, 구성 성분을 관찰 할 수 있는 장비 |
|---|---|
| 모델/규격명 | S-4700 |
| 보유기관 | 정밀분석개발실 |
| 관리부서 | 공용장비지원센터 1588-1830 |
주사전자현미경(FE-SEM)
Scanning Electron Microscope
| 개요 | 시료의 표면 구조 및 형상, 구성 성분을 관찰 할 수 있는 장비 |
|---|---|
| 모델/규격명 | S-4700 |
| 보유기관 | 정밀분석개발실 |
| 관리부서 | 공용장비지원센터 1588-1830 |
