장비
  • 장비
  • 장비
  • 장비
  • 장비
주사전자현미경(FE-SEM) Scanning Electron Microscope
개요 시료의 표면 구조 및 형상, 구성 성분을 관찰 할 수 있는 장비
제작국가 일본
모델/규격명 S-4700
자산상태 -
장비 관리
설치장소 산학융합관 정밀분석개발실/소재물성분석실
보유기관 정밀분석개발실
관리부서 공용장비지원센터 1588-1830
장비 스펙

장비설명 - 관찰하고자하는 소재의 구조보다 작은 파장의 전자를 고전압(200kV)으로 가속하여 소재에 투과시켜서 발생하는 영상을 이용하여 결정 구조와 화학 성분의 변화를 정밀하게 분석할 수 있어 나노 구조체(전자, 반도체, LED, 박막 등) 분석에 필수적인 장비 주요규격 - Gun Source : Schottky Field Emission Gun - Accelerating Voltage : 20~200 kV - Magnification : 25~1,030,000 (STEM : 150~2,300,000) - Holder : Double-Tilt, Low-Background Double-Tilt, Tomography - EDS System(NORAN) 장비활용예 - 관찰하고자하는 소재의 구조보다 작은 파장의 전자를 고전압(200kV)으로 가속하여 소재에 투과시켜서 발생하는 영상을 이용하여 결정 구조와 화학 성분의 변화를 정밀하게 분석할 수 있어 나노 구조체(전자, 반도체, LED, 박막 등) 분석에 필수적인 장비 - 관찰하고자하는 소재의 구조보다 작은 파장의 전자를 고전압(200kV)으로 가속하여 소재에 투과시켜서 발생하는 영상을 이용하여 결정 구조와 화학 성분의 변화를 정밀하게 분석할 수 있어 나노 구조체(전자, 반도체, LED, 박막 등) 분석에 필수적인 장비

일괄장비 목록
순번 공용장비명 모델/규격명 보유기관 자산상태
1 정면기(D/F전처리기) CN-500 고부가PCB지원실 신품
2 자동라미네이터 KLT-L200 고부가PCB지원실 신품
3 에칭박리기(Etching Stript Line) - 고부가PCB지원실 -
추가기자재 목록
순번 공용장비명 품명 품목분류 용도구분 관리부서
1 주사전자현미경(FE-SEM) 실체현미경 광학현미경 연구용 공용장비지원센터
2 주사전자현미경(FE-SEM) 원자현미경(SPM) 원자현미경 교육용 공용장비지원센터
이용료 산정
순번 이용료 구분 단가 비고
1 RSM 분석 100,000원 / 시간 기본 5시간
2 기본요금 50,000원 / 회 -
3 샘플 당 요금 20,000원 / 시편 -
4 Epi wafer 공정/분석 process 1,500,000 / 회 -